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eMMC5.1測試解決方案
日期：2016-06-13瀏覽：3649次
eMMC5.1測試解決方案
主動式探棒架構
支援待測物頻寬zui高可達200 MHz
良好的阻抗匹配, 強化接地保護, 降低雜訊干擾, 提升高速訊號的量測品質、度和穩定度
4種規格探棒, 針對不同的信號源, 可搭配使用以獲得的信號量測品質
長時間紀錄
透過USB3.0傳輸介面, 平均300 MB/s的傳輸率, 設計邏輯分析儀不間斷長時間紀錄功能, 將巨量資料存在計算機硬碟上供工程師進行問題分析除錯, 根據不同的取樣率和通道數的設定, 可紀錄zui少約7小時, zui多約800小時的資料量
eMMC5.1 / SD 3.0 LA mode 解碼與觸發
搭配探棒, 取樣率可達2GHz, 基本支援4 ch, zui大支援32 ch (選購)
注意事項
探棒傳輸線與主機連接port為USB3.0接口；8 port為一組觸發電壓、分為4組(A0-A7,B0-B7,C0-C7,D0-D7)、共計有32 port。每一條探棒傳輸線各自連接一組前端主動探棒，可依原廠出貨配件的顏色區分使用。
本型號LAP-F164為32 port機種，每一支探棒zui前端具備2組訊號探測線(共64通道)。
SD/eMMC測試分析儀性能特點
時序分析功能(Logic Analyzer mode)
Event trigger事件觸發：3階CMD sequence事件設定；CRC error觸發；Busy Time觸發。(for eMMC)
協定封包觸發；NCR…等時序格式；1、4、8 bit數據格式；支援HS400 Mode
協議分析功能(Protocol Analyzer mode)
Events log: 小時→天等級的紀錄長度(250M records)；CMD / Addr / Arg / Data / status封包結構查找；CRC error、CMD response error問題訊號快速查找。
自動化測試項目隨JEDEC規格進化
Device Identification Mode；Data Transfer Mode；Read/Write Data Comparison；Packet Statistics…等。
軟件仿真校正功能
軟件內含625 ps精度時序飄移(timing shift)校正，排除微小的取樣點頻率誤差所造成訊號解析錯誤。
狀態同步取樣率zui高達 200MHz
高速數字量測、追求準確之*選擇
高速核心芯片設計, 搭配*主動式探棒架構, 大幅提升取樣訊
號與觸發電壓的度, 量測復雜電路與高頻訊號的*選擇,
有效減少研發時程與提升量測穩定度
狀態取樣頻率：zui高可達 200MHz (Dual-edge)
時序取樣頻率：zui高可達1GHz,通道數： 40CH / 64CH
每信道內存深度(bits)： 4M / 64M
6項硬件觸發： I2C / I2S / SPI / SVID / UART / CAN2.0B
eMMC 5.1 / SD3.0 LA mode 協議解碼與觸發
免費支持超過110種總線協議分析
長時間紀錄功能,透過 USB3.0 接口，可直接儲存數據于硬盤
可連結他牌示波器(Tektronix, Agilent, GW Instek, …),將波形輸入到軟件內進行分析
可量測之待測物頻寬，zui高可達 200MHz
良好的阻抗匹配，強化接地保護，降低噪聲干擾，
提升高速訊號的量測質量、度和穩定度
支持 4 種規格：低電壓探棒、負邏輯(ECL)探棒、支援eMMC5.1/SD3.0
標準 TTL 探棒
主動式探棒
下一篇：eMMC總線協議測試儀
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
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- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
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- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
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- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
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- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
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